文献

J-GLOBAL ID：202202254432708977   整理番号：22A0980256

混合集積回路を試験するための統合アナログ符号発生器【JST・京大機械翻訳】

Integrated Analogical Signs Generator for Testing Mixed Integrated Circuits

著者 (5件)： Simancas-Garcia Jose L. (Departamento de Ciencias de la Computacion y Electronica, Universidad de la Costa, Barranquilla, Colombia) ,  Melendez-Pertuz Farid A. (Departamento de Ciencias de la Computacion y Electronica, Universidad de la Costa, Barranquilla, Colombia) ,  Combita-Nino Harold (Departamento de Ciencias de la Computacion y Electronica, Universidad de la Costa, Barranquilla, Colombia) ,  Gonzalez Ramon E. R. (Departamento de Fisica, Universidade Federal Rural de Pernambuco, Recife, Pernambuco, Brazil) ,  Collazos-Morales Carlos (Vicerrectoria de Investigaciones, Universidad Manuela Beltran, Bogota, Colombia)
資料名： Lecture Notes in Computer Science  (Lecture Notes in Computer Science)
巻： 13184  ページ： 483-495  発行年： 2022年 
JST資料番号： H0078D  ISSN： 0302-9743  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文は,アナログおよび混合信号集積回路をテストするための機能ブロックの設計を提示した。目的は,この機能ブロックが集積回路,ICに埋め込まれ,アナログ機能ブロックの刺激を生成することである。結果は,実行したシミュレーションで証明されたように,アナログ刺激を生成する能力を持つ単純なブロックである。Copyright Springer Nature Switzerland AG 2022 Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *集積回路 ,  ブロック ,  アナログ系 ,  通信信号
準シソーラス用語： 混合信号 ,  機能ブロック , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 集積回路 ,  試験 ,  アナログおよび混合信号システム

分類 (2件)： 混成集積回路  (NC03163K) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 集積回路 ,  試験 ,  統合 ,  アナログ ,  符号 ,  発生器