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J-GLOBAL ID:202202255809971594   整理番号:22A1091069

抵抗スイッチングデバイスにおける変動性推定,数値的および運動論的モンテカルロ展望【JST・京大機械翻訳】

Variability estimation in resistive switching devices, a numerical and kinetic Monte Carlo perspective
著者 (8件):
資料名:
巻: 257  ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0406B  ISSN: 0167-9317  CODEN: MIENEF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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抵抗メモリ(抵抗ランダムアクセスメモリ,RRAM)の変動性を解析し,速度モンテカルロ技術に基づく実験測定およびシミュレーションを処理するための先進数値技術を利用した。本研究で用いたデバイスは窒化チタン/Ti/HfO_2/Wスタックを用いて作製した。スイッチングパラメータを得て,新規開発抽出法を利用した。先進パラメータ抽出方法論の妥当性を,速度論的モンテカルロシミュレーションと比較してチェックした。特に,リセットとセットイベントを研究し,検出した。得られたデータを用いて抵抗スイッチング動作とサイクルサイクル変動を明らかにした。変動性は,セットとリセット電圧を得るために用いた数値技術に依存し,従って,この問題はRSキャラクタリゼーションとモデリング研究において考慮されなければならない。提案手法は相補的であり,技術と曲線形状に依存して,特定の方法の特徴を最も適切とすることができる。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体集積回路 

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