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J-GLOBAL ID:202202263164313383   整理番号:22A0549833

交互位相集束を用いたナノフォトニックチップ上の電子ビーム輸送における実験的考察【JST・京大機械翻訳】

Experimental considerations in electron beam transport on a nanophotonic chip using alternating phase focusing
著者 (3件):
資料名:
巻: 40  号:ページ: 010602-010602-6  発行年: 2022年 
JST資料番号: E0974A  ISSN: 2166-2746  CODEN: JVTBD9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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レーザが発明された後には,粒子の加速のための強い高周波電磁放射の候補源としてマークされた。実際には,今日の複雑粒子加速器施設は,物理学者,技術者,および科学者のホストの世代によって貢献された数十年の作業の驚くべき culminationであり,最近,新しい傾向と加速技術が提案され,実証されている。これらの技術の一つは粒子加速器の小型化を含み,高周波(RF)電磁場をレーザを用いて光周波数領域の場で加速する。これは,必要な場分布を提供するためにナノフォトニック構造を用いる。最近,RF加速器のナノフォトニック対応物に対する個々の要素が実証されている。同様に,このような構造による活性電子輸送を示し,それは交互相集束の概念に基づいた。本論文では,光周波数を用いた交互位相集束の最近実証された原理について論じ,増強し,関連するシミュレーションと実験から新しい洞察を提供する。特に,時間遅延走査から可能な不正確性と寄生効果を同定する方法を示し,ナノメータ構造による電子の透過が電子とレーザパルス間の時間的重なりに依存する方法を論じた。また,電子ビームの入射角が構造を通して電子の測定した透過にいかに影響するかも示す。Copyright 2022 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (4件):
分類
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電子ビーム,イオンビーム  ,  電子源,イオン源  ,  半導体の放射線による構造と物性の変化  ,  固体デバイス製造技術一般 
タイトルに関連する用語 (5件):
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