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J-GLOBAL ID:202202263169892838   整理番号:22A1101591

0.18μm CMOSプロセスにおける高次温度補償によるサブ1/°Cバンドギャップ電圧基準【JST・京大機械翻訳】

A Sub-1/°C Bandgap Voltage Reference With High-Order Temperature Compensation in 0.18-μm CMOS Process
著者 (7件):
資料名:
巻: 69  号:ページ: 1408-1416  発行年: 2022年 
JST資料番号: C0226B  ISSN: 1549-8328  CODEN: ITCSCH  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文は,高次温度補償による高精度バンドギャップ電圧基準(BGR)を提示した。補償信号は,BJTベースエミッタ電圧(V_BE)において高次非線形項Tln(T)を打ち消す強反転MOSFETと二極接合トランジスタ(BJTs)の両方を用いて生成され,従って広い温度範囲にわたる低温係数(TC)が達成される。提案したBGR回路は,0.256m{m{2}のアクティブ面積と1.35mWの最大電力消費を持つ0.18μmCMOSプロセスで製作した。-25°Cから125°Cまで0.706ppm/°Cの最小TCが8ビット抵抗トリミング後に達成された。線感度は3.2Vから3.7Vの運転で0.0146%/Vであった。BGRは,-63.4dBの電源阻止率(PSR)と10Hzで0.92ΩμV/√Hzの雑音スペクトル密度を達成した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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半導体集積回路  ,  電源回路 
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