Chen Rongrong について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Liu Jie について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Feng Bo について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Zhu Hongyan について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Wang Di について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Luan Caina について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Zhang Lei について
State Key Lab of Crystal Materials, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Xiao Hongdi について
School of Microelectronics, Shandong University, Jinan, People’s Republic of China について
Journal of Materials Science について
キャリア移動度 について
焼なまし について
光検出器 について
ドーピング について
状態密度 について
窒化ガリウム について
細孔 について
ウェットエッチング について
光応答 について
アニーリング温度 について
結晶品質 について
窒素雰囲気 について
多孔構造 について
エピタキシャル膜 について
焼きなまし温度 について
二次電池 について
その他の表面処理 について
セラミック・磁器の性質 について
窒素雰囲気 について
アニーリング について
GaN について
細孔 について
光検出器 について