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J-GLOBAL ID:202202265378601469   整理番号:22A0482809

ファインピッチフリップチップパッケージにおける無クリーンフラックスの化学と性能の研究【JST・京大機械翻訳】

Investigation Into Chemistry and Performance of No-Clean Flux in Fine Pitch Flip-Chip Package
著者 (4件):
資料名:
巻: 12  号:ページ: 155-167  発行年: 2022年 
JST資料番号: W0590B  ISSN: 2156-3950  CODEN: ITCPC8  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,2つの市販無洗浄フラックス(NCFs),すなわちNC-1とNC-2の化学と性能を研究した。1つの水溶性(WS)フラックスも比較のために研究した。これらのフラックスとその残留物の化学をFourier変換赤外(FTIR)分光法を用いて調べた。フラックスの熱挙動を示差走査熱量測定(DSC)と熱重量分析(TGA)を用いて評価した。残留物の吸湿性は,残留物汚染基質に関する水接触角を用いて決定した。これらのフラックスを用いて,はんだバンプと銅ピラーを含む微細ピッチ(150×550μm)フリップチップパッケージ(17×17mm2)を調製した。各フラックスの性能を銅基板上の予め印刷したSAC-305はんだの濡れ性を用いて評価した。はんだバンプのダイプル強度を評価し,破壊モードを走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて分析した。FTIRの結果は,カルボン酸,第三アミン,およびエーテルがNC-1に存在することを示した。カルボン酸,第二アミド,およびエーテルをNC-2で観察した。WSはカルボン酸,第二アミン,エーテルおよびアルコールの存在を示した。残留物はNC-1にカルボン酸とアミン,NC-2にアミドのみの存在を示した。NCF中の特定のモノカルボン酸とエーテル溶媒の蒸発はWSと比較して最小の残留物をもたらした。WSの残留物はN CFと比較して高度に吸湿性であった。NC-1とNC-2を用いて調製したはんだバンプの濡れはWSよりも良く,これはフラックス化学に関係する。その結果,N CFではより高いダイプル強度が観察された。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
分類
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接続部品  ,  固体デバイス製造技術一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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