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J-GLOBAL ID：202202266816206618   整理番号：22A0630869

強化された挑戦応答空間を持つ高信頼性SRAMベースPUF【JST・京大機械翻訳】

A High Reliable SRAM-Based PUF With Enhanced Challenge-Response Space

著者 (2件)： Lu Lu (Nanyang Technological University, Singapore) ,  Kim Tony Tae-Hyoung (Department of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore)
資料名： IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs  (IEEE Transactions on Circuits and Systems 2: Express Briefs)
巻： 69  号： 2  ページ： 589-593  発行年： 2022年 
JST資料番号： W0347A  ISSN： 1549-7747  CODEN： ITCSFK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： この短報は,強化された信頼性を有するシーケンス依存SRAMベースのPUFを提案する。それは,信頼できる認証のために(列(シーケンス長+2)×カラム)の順位によってCPRsを拡大した。提案したビットセルは,別々に2つのアクセストランジスタを制御するために分割単語ラインを利用する。PUFモードは,1ビットデータを生成する18のトランジスタを含む2つの左単語ラインと2つの右単語ラインに同時に回転する。提案技法は1チップから複数のデータマップをレンダリングする。そのうえ,様々な温度と電圧組合せは,各データマップのための信頼性マップを作成することができる。試験チップを40nmCMOS技術で製作した。測定した最悪ビットエラー率は名目点(1V,20°C)で0.8%であった。単一チップから,提案したPUFは,他のシーケンスに対して,それぞれ,異なる次数と44.93%の1つのシーケンスに対して,41.29%のハミング距離を達成した。測定したチップ間ハミング距離は49.64%であった。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電圧 ,  トランジスタ ,  *信頼性 ,  地図 ,  *塩基 ,  *SRAM ,  単語 ,  半導体チップ ,  レンダリング ,  Hamming距離
準シソーラス用語： ビット誤り率 ,  高信頼性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 強化 ,  応答 ,  高信頼性 ,  SRAM