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J-GLOBAL ID:202202269862259857   整理番号:22A0193431

共鳴非弾性軟X線散乱による機能性材料の電子状態研究

Resonant soft-X-ray inelastic scattering: new probe of the electronic structures for functional materials
著者 (1件):
資料名:
巻: 74  号: 1 上巻  ページ: 18-23  発行年: 2022年01月10日 
JST資料番号: F0270A  ISSN: 0387-2211  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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・共鳴非弾性軟X線散乱(RIXS)は,液体でも気体でも測定可能,試料が帯電する影響がなく絶縁体でも測定可能,厚いキャップ相に覆われた界面の電子状態も測定可能という比較的新しい分光技術。
・RIXSの光学過程は,内殻準位から非占有状態への励起と生成された内殻ホールへの価電子帯の電子の脱励起の2段階。
・SrTiO3上に様々な厚みのLaTiO3を堆積したヘテロ構造に対しRIXSで電子構造を調べ,界面には伝導キャリアと局在キャリアが存在することを解明。
・磁場中の磁性体試料に対しRIXSスペクトルの磁気円二色性を測定して,磁性体の電子構造をスピン成分に分解して観測する実験手法の開発に成功。
・Co2MgSiに対して磁場中RIXSの測定を行い,ハーフメタル型電子構造を有することを実験的に実証。
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分類 (2件):
分類
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X線技術  ,  金属結晶の電子構造 
引用文献 (16件):
  • Shigemasa Suga, Akira Sekiyama, Christian Tusche ′′Photoelectron Spectroscopy: Bulk and Surface Electronic Structures (Second Edition)′′ (Springer Series in Surface Sciences Vol.72, Springer Nature, Switzerland AG 2021) ISBN: 978-3-030-64072-9
  • L. J. P. Ament, et al., Rev. Mod. Phys. 83, 705 (2011).
  • F. Gel'mukhanov, et al., Rev. Mod. Phys. 93, 035001 (2021).
  • G. van der Laan, et al., Coord. Chem. Rev. 277-278, 95 (2014).
  • R. Y. Umetsu, H. Fujiwara, et al., Phys. Rev. B 99, 134414 (2019).
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