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J-GLOBAL ID：202202273291274273   整理番号：22A0159428

金属薄膜上のその場TEMナノメカニカル引張試験中の電子ビーム効果の理解と定量化【JST・京大機械翻訳】

Understanding and quantifying electron beam effects during in situ TEM nanomechanical tensile testing on metal thin films

著者 (6件)： Stangebye Sandra (School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332, USA) ,  Zhang Yin (Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332, USA) ,  Gupta Saurabh (Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332, USA) ,  Zhu Ting (Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332, USA) ,  Pierron Olivier (Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332, USA) ,  Kacher Josh (School of Materials Science and Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA 30332, USA)
資料名： Acta Materialia  (Acta Materialia)
巻： 222  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： A0316A  ISSN： 1359-6454  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過型電子顕微鏡(TEM)イメージングは原子スケール分解能のための高エネルギー電子に依存するが,電子自体は相互作用し,画像化される材料を変化させる可能性がある。その場TEM MEMSベースのナノメカニカル試験技術を用いて,ナノ結晶Alと超微細粒Auの変形挙動に及ぼす電子ビーム(e-ビーム)の影響を調べ,定量化した。電子ビームは塑性変形を促進し,Al(28から21b3)における塑性歪速度の増加と真の活性化体積V*の減少をもたらし,bはBurgersベクトル長である。電子ビームはAuに対してはるかに弱い効果を有した。電子ビーム効果は,ノックオン損傷によっては起こらなかったが,むしろ,電子ビームによって提供される付加的原子変動により,有効温度が増加した。有効温度上昇はAuよりもAlの方が大きかった。この電子ビーム効果は変形機構を変化させないが,代わりに応力駆動,熱活性化塑性変形を加速する。これらの実験は,異なる金属における塑性変形に及ぼす電子ビームの影響への洞察を提供し,その場TEM実験中の測定した機械的性質の適切な解釈に対するこれらの効果の理解と定量化の重要性を強調する。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 相互作用 ,  *電子ビーム ,  *引張試験 ,  *金 ,  アルミニウム ,  画像処理 ,  *金属薄膜 ,  塑性変形 ,  塑性歪 ,  超微粒子 ,  透過型電子顕微鏡 ,  ナノ結晶 ,  MEMS
準シソーラス用語： 変形機構 ,  *その場TEM , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： その場TEM ,  Electronビーム照射 ,  塑性変形 ,  熱活性化プロセス ,  活性化体積

分類 (4件)： 金属の機械的性質  (BL01022T) ,  金属の格子欠陥  (BK12030F) ,  機械的性質  (WB02030U) ,  熱処理技術  (WC03020T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 金属薄膜 ,  その場TEM ,  引張試験 ,  電子ビーム ,  理解 ,  定量化