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J-GLOBAL ID：202202274366347355   整理番号：22A0396672

a-InGaZnO薄膜トランジスタの動的自己加熱劣化におけるホットキャリアの役割【JST・京大機械翻訳】

Roles of Hot Carriers in Dynamic Self-Heating Degradation of a-InGaZnO Thin-Film Transistors

著者 (9件)： Liu Fayang (School of Electronic and Computer Engineering, Shenzhen Graduate School, Peking University, Shenzhen, China) ,  Zhou Yuheng (School of Electronic and Computer Engineering, Shenzhen Graduate School, Peking University, Shenzhen, China) ,  Yang Huan (School of Electronic and Computer Engineering, Shenzhen Graduate School, Peking University, Shenzhen, China) ,  Zhou Xiaoliang (School of Electronic and Computer Engineering, Shenzhen Graduate School, Peking University, Shenzhen, China) ,  Zhang Xiaohui (School of Materials Science and Engineering, South China University of Technology, Guangzhou, China) ,  Li Guijun (Key Laboratory of Optoelectronic Devices and Systems of Ministry of Education and Guangdong Province, College of Physics and Optoelectronic Engineering, Shenzhen University, Shenzhen, China) ,  Zhang Meng (College of Electronic and Information Engineering, Shenzhen University, Shenzhen, China) ,  Zhang Shengdong (School of Electronic and Computer Engineering, Shenzhen Graduate School, Peking University, Shenzhen, China) ,  Lu Lei (School of Electronic and Computer Engineering, Shenzhen Graduate School, Peking University, Shenzhen, China)
資料名： IEEE Electron Device Letters  (IEEE Electron Device Letters)
巻： 43  号： 1  ページ： 40-43  発行年： 2022年 
JST資料番号： B0344B  ISSN： 0741-3106  CODEN： EDLEDZ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 動的自己加熱(SH)劣化を,一定のドレインバイアスと様々なゲートパルスの下で,a-InGaZnO(a-IGZO)薄膜トランジスタ(TFTs)上で研究した。閾値電圧(V_SiWth||)の負のシフトに加えて,DC SHストレス下のそれと同様に,ドレインとソース近くの非対称劣化は,同時ホットキャリア(HC)効果を明らかにした。ドレイン近くのHC誘起局所障壁は,あるSH誘起V_SiWπ*シフトを補償し,一方,劇的なSH効果は,ハード破壊を引き起こすために,HC障壁を十分高くするであろう。動的SH応力下のa-IGZO TFTでは,SHとHC効果間の相互作用が劣化挙動を支配し,ゲートパルスの落下時間によって敏感に調整でき,動的不安定性を少なくする実現可能な方法を示唆した。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 相互作用 ,  *薄膜トランジスタ ,  非対称性 ,  熱劣化 ,  パルス ,  バイアス ,  *ホットキャリア
準シソーラス用語： 閾値電圧 ,  *自己加熱 ,  酸化インジウム・ガリウム・亜鉛 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (4件)： トランジスタ ,  自己加熱 ,  ホットキャリア ,  役割