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J-GLOBAL ID：202202281461859195   整理番号：22A1210782

光コムパルス干渉とエタロン多重反射による高精度ファイバセンサの開発

著者 (4件)： 増田秀征 (東大) ,  門屋祥太郎 (東大) ,  道畑正岐 (東大) ,  高橋哲 (東大)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2022  号： 春季(CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.D08  発行年： 2022年03月02日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ファイバセンサは橋梁や航空機等の構造物の監視や過酷な環境下での測定に用いられている.この領域では高精度化,高感度化が常に求められている.本研究では,光コムの繰り返し周波数走査時のパルス干渉とファイバエタロンの多重反射を用いて,その絶対長をシンプルな光学系で高精度計測するシステムを提案する.実験の結果,数百mm程度のエタロンを繰り返し精度数nmで測定可能であり,高精度・高感度なセンサへの応用が期待される.(著者抄録)

シソーラス用語： *光ファイバセンサ ,  光源 ,  多重反射 ,  *長さ測定 ,  エタロン ,  *光干渉 ,  分解能 ,  *監視
準シソーラス用語： ファイバセンサ ,  橋の診断監視 ,  光コム

分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

引用文献 (1件)：

• Sudatham W, Matsumoto H, Takahashi S, Takamasu K, Measurement, Vol.78, pp.381-387, 2016

タイトルに関連する用語 (7件)： 光コム ,  パルス ,  干渉 ,  エタロン ,  多重反射 ,  ファイバセンサ ,  開発