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J-GLOBAL ID：202202282330875842   整理番号：22A0430487

IEC波形のスペクトル解析,発電機とパルサの比較【JST・京大機械翻訳】

Spectral analysis of the IEC waveform, a comparison of generators and pulsers

著者 (3件)： Muhonen Kathleen (Qorvo Inc, 7628 Thorndike Dr, Greensboro, NC, USA) ,  Richner John (Barth Electronics, Inc., 1589 Foothill Drive, Boulder City, NV, USA) ,  Maloney Timothy J. (Center for Analytic Insights, Palo Alto, CA, USA)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 128  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： IEC 61000-4-2はシステムレベル試験であるが,元の装置メーカー(OEM)はこの波形を持つ部品をテストするためにIC製造を継続する。IEC61000-4-2に対する成分試験の主な問題は,適切な発電機(IEC銃として参照される)がRF感受性成分に対して異なる結果を生成することである。本研究では,IEC発生器が装置全体で反復できない理由を実証するために,周波数領域スペクトルを解析した。さらに,IECパルス波形を解析し,よく制御されたスペクトルを示し,事象から事象までの再現性を示し,これは発電機が不足している。反復可能な装置を用いることは,特にRF成分に対して,サイトにわたって意味のある結果を得るために必須である。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 放電 ,  感受性 ,  再現性 ,  *スペクトル解析 ,  *スペクトル ,  生産者 ,  *パルサー ,  周波数領域
準シソーラス用語： パルス波形 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (8件)： IEC ,  ESD ,  スペクトル解析 ,  RF部品 ,  接触放電 ,  システムレベルESD ,  IEC発電機 ,  IECパルサ

分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (5件)： IEC ,  波形 ,  スペクトル解析 ,  発電機 ,  パルサ