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J-GLOBAL ID：202202285130745895   整理番号：22A0493011

回折線法を用いたナノ粒子のX線回折線プロフィルにおける広がりの除去【JST・京大機械翻訳】

Elimination of the broadening in X-ray diffraction lines profile for nanoparticles by using the analysis of diffraction lines method

著者 (2件)： Abbas Salma Bassem Abdel (Department of Physics - College of Education (Ibn Al-Haitham) - University of Baghdad, Baghdad-Iraq) ,  Harbbi Khalid Hellal (Department of Physics - College of Education (Ibn Al-Haitham) - University of Baghdad, Baghdad-Iraq)
資料名： AIP Conference Proceedings  (AIP Conference Proceedings)
巻： 2386  号： 1  ページ： 080033-080033-12  発行年： 2022年 
JST資料番号： D0071C  ISSN： 0094-243X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,積分幅法の結果を用いて,ジルコニウム酸化物ナノ粒子の結晶サイズと格子歪を決定し,結晶サイズの値を(8.2nm)と格子歪(0.001955)に等しく,その結果をSchererとScherer動的回折理論,およびSchererとWilson法の2つの公式(SchererとWilson法),ScherrerとWilson法,およびScherrerとWilson法の2つの公式を用いて,結晶のサイズ(8.9nm)を得た。これらの方法のそれぞれについて計算した結果の差を本研究で観察した。Copyright 2022 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *X線回折 ,  *回折 ,  格子歪 ,  *X線回折分析 ,  酸化ジルコニウム ,  *ナノ粒子
準シソーラス用語： 回折理論 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 回折 ,  ナノ粒子 ,  X線回折 ,  プロフィル ,  広がり