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J-GLOBAL ID:202202286135536066   整理番号:22A0736702

μm薄線量測定層による深さ線量曲線と表面線量測定【JST・京大機械翻訳】

Depth dose curve and surface dose measurement with a μm thin dosimetric layer
著者 (8件):
資料名:
巻: 193  ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: D0627A  ISSN: 0969-806X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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前者では,無機蛍光体粒子NaYF_4:Yb3+,Er3+が,近赤外励起でのルミネセンス減衰時間の放射線線量依存性を示すことを見出した。この材料は,深さ線量曲線を測定するために超薄線量計の形で現在発表されている。それらは,吸収体高分子膜のステップスタックによる1.6μmの薄い線量計の電子ビーム照射とその後の光減衰時間評価によって誘導した。深さ曲線測定に対する蛍光体線量計の適合性は,中エネルギー電子ビーム照射後の膜線量計(Riso B3ストリップ)による正規化線量結果の良好な一致によって証明された。しかし,このアプローチは,特に,低エネルギーでの使用に対して適切であり,そこでは,表面からの3~4μm(水当量)に近い元の測定結果が,80,140および200keV電子ビーム照射に対して得られた。それらはモンテカルロシミュレーションからの結果と良く一致した。したがって,低エネルギー電子ビーム照射後の深度線量曲線の最初のμmの実験的評価を可能にする議論のためのアプローチを提案する。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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線量計測・計測器 
タイトルに関連する用語 (3件):
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