特許
J-GLOBAL ID：202203002719605029
分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
棚井 澄雄
, 飯田 雅人
, 清水 雄一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2021-078624
公開番号（公開出願番号）：特開2022-172633
出願日： 2021年05月06日
公開日（公表日）： 2022年11月17日
要約：
【課題】超音波放射力を利用して、測定対象物である粒子の密度などの特性を高感度でかつ精度よく測定することができる分析装置を提供する。
【解決手段】複数個の粒子が超音波放射力を受けることによって離脱可能に保持される試料保持面を有する基板と、前記粒子に超音波放射力を付与する超音波トランスデューサーと、前記超音波トランスデューサーに印加する電圧値を調整する電圧調整器と、前記粒子が超音波放射力を受けることによって前記基板の前記試料保持面から離脱したときの前記粒子に付与した超音波放射力もしくは前記超音波トランスデューサーに印加した電圧値を出力する出力部と、を備える、分析装置。
【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数個の粒子が超音波放射力を受けることによって離脱可能に保持される試料保持面を有する基板と、
前記粒子に超音波放射力を付与する超音波トランスデューサーと、
前記超音波トランスデューサーに印加する電気信号の電圧値を調整する電圧調整器と、
前記粒子が超音波放射力を受けることによって前記基板の前記試料保持面から離脱したときの前記粒子に付与した超音波放射力もしくは前記超音波トランスデューサーに印加した電気信号の電圧値を出力する出力部と、を備える、分析装置。
IPC (5件)：
G01N 15/00
, G01N 15/02
, G01N 33/53
, G01N 33/552
, G01N 33/553
G01N15/00 A
, G01N15/02 D
, G01N33/53 M
, G01N33/552
, G01N33/553
4B063QA01
, 4B063QA13
, 4B063QA18
, 4B063QQ42
, 4B063QR32
, 4B063QR83
, 4B063QS34
, 4B063QS39
, 4B063QX04
