特許
J-GLOBAL ID：202203007563362017
シンチレータの発光減衰時定数の測定方法、その測定装置およびシンチレータの賦活材濃度の測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-227688
公開番号（公開出願番号）：特開2019-095402
特許番号：特許第7022977号
出願日： 2017年11月28日
公開日（公表日）： 2019年06月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 シンチレータの発光減衰時定数の測定方法であって、 シンチレータに放射線が入射するイベントによって、シンチレータから出力される光を光電変換して電気信号に得、 得られた1つのイベントについての電気信号の電圧波形におけるピーク値(Vp)と積分値(Q)との比(Vp/Q)を算出し、 予め得られている、ピーク値と積分値との比(Vp/Q)と、シンチレータの発光減衰時定数との関係であって、(Vp/Q)を(y)、発光減衰時定数を(x)、a,bを定数とした場合に、y=a/x+bとなる関係を利用して、算出されたVp/Qからシンチレータの発光減衰時定数を決定する、 シンチレータの発光減衰時定数の測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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