特許

J-GLOBAL ID：202203007696017290

X線を用いた物質評価方法及び物質評価装置

発明者： 三尾 和弘 ,  佐々木 裕次 ,  倉持 昌弘
出願人/特許権者： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-122717
公開番号（公開出願番号）：特開2022-019115
出願日： 2020年07月17日
公開日（公表日）： 2022年01月27日
要約：

【課題】X線の物質を透過する際の吸収を非常に短い時分割で計測し物質を評価する物質評価方法及びこれを用いた物質評価装置の提供。 【解決手段】物質評価方法は、X線の照射箇所での透過強度の時間変動解析において、原子又は分子の熱揺らぎに対応する動態を時分割評価することを特徴とする。物質評価装置は、X線の照射箇所での透過強度の時間変動解析において、原子又は分子の熱揺らぎに対応する動態を時分割評価することを特徴とする。 【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

X線の物質を透過する際の吸収を計測して該物質を評価する物質評価方法であって、 X線の照射箇所での透過強度の時間変動解析において、原子又は分子の熱揺らぎに対応する動態を時分割評価することを特徴とするX線を用いた物質評価方法。

IPC (1件)：

G01N 23/083

FI (1件)：

G01N23/083

Fターム (6件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA03 ,  2G001HA01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 運動計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2016-226495   出願人：国立大学法人東京大学

審査官引用 (3件)

• 運動計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2016-226495   出願人：国立大学法人東京大学
• 粒子線を用いた測定方法および測定システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2017-180055   出願人：株式会社日立製作所, トヨタ自動車株式会社, 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構
• 粒子軌跡検出方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2013-240721   出願人：株式会社IHI

引用文献：

審査官引用 (4件)

• X線を用いた1分子計測法
• 単色X線を用いた1分子動態追跡の実現とその波及性
• 7.X線1分子追跡法の技術開発とその広域利用
• Diffracted X-ray Blinking Tracks Single Protein Motions