特許

J-GLOBAL ID：202203007897937533

重要技術語取得装置、重要技術語取得方法、およびプログラム

発明者： 邊土名 朝飛 ,  野中 尋史 ,  谷川 英和
出願人/特許権者： 国立大学法人長岡技術科学大学 ,  株式会社アイ・アール・ディー
代理人 (1件)： 谷川 英和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-116718
公開番号（公開出願番号）：特開2022-014400
出願日： 2020年07月06日
公開日（公表日）： 2022年01月19日
要約：

【課題】特許文書から重要度が高い技術語を的確に取得する重要技術語取得装置、方法およびプログラムを提供する。 【解決手段】重要技術語取得装置1において、予め決められた条件である技術語候補条件を満たす用語である技術語候補を、特許に関する特許文書から取得する技術語候補取得部と、特許文書における技術語候補の1以上の出現箇所を決定する出現箇所決定部と、1以上の出現箇所に応じて、技術語候補のスコアを取得するスコア取得部と、スコアが予め決められた条件を満たすほど高い技術語候補を、重要技術語として取得する重要技術語取得部と、重要技術語を出力する重要技術語出力部と、を具備する。 【選択図】図1

請求項（抜粋）：

予め決められた条件である技術語候補条件を満たす用語である技術語候補を、特許に関する特許文書から取得する技術語候補取得部と、 前記特許文書における前記技術語候補の1以上の出現箇所を決定する出現箇所決定部と、 前記1以上の出現箇所に応じて、前記技術語候補のスコアを取得するスコア取得部と、 前記スコアが予め決められた条件を満たすほど高い技術語候補を、重要技術語として取得する重要技術語取得部と、 前記重要技術語を出力する重要技術語出力部とを具備する重要技術語取得装置。

IPC (1件)：

G06F 40/279

FI (1件)：

G06F40/279

Fターム (1件)：

5B091AB08