特許
J-GLOBAL ID：202203008801627675

試験装置

発明者：
江幡 弘道

江幡 弘道 について

, 
市川 誠

市川 誠 について


出願人/特許権者：
ホーチキ株式会社

ホーチキ株式会社 について


代理人 (1件)： 斉藤 達也
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-206114
公開番号（公開出願番号）：特開2020-177704
特許番号：特許第7029496号
出願日： 2016年10月20日
公開日（公表日）： 2020年10月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 監視領域における検出対象の物理量に基づいて前記監視領域の異常を検出する感知器を試験する試験装置であって、 前記試験装置は、 前記感知器に対して前記検出対象を供給して行う供給試験に関する制御と、前記感知器に対して前記検出対象を供給しないで行う非供給試験に関する制御とを行う制御手段を備え、 前記制御手段は、 前記供給試験に関する制御として、少なくとも、前記感知器に対して前記感知器が作動すべき第1物理量となる前記検出対象の供給を開始した時から所定時間以内に前記監視領域の異常を検出することを判定する作動試験と、前記感知器に対して前記感知器が作動すべきでない第2物理量となるように前記検出対象の供給を開始した時から所定時間以内に前記監視領域の異常を検出しないことを判定する不作動試験に関する制御を行い、 前記試験装置は、 前記感知器が前記監視領域の異常を検出したか否か判定する試験装置側状態検出手段、を備え、 前記感知器は、前記検出対象の供給を受けずに前記監視領域の異常を検出するための機能を確認するための自動試験を実施可能に構成されており、 前記制御手段は、 少なくとも、前記自動試験を開始させる制御と、前記自動試験の結果を前記感知器側から取得して出力する制御を、前記非供給試験に関する制御として行い、 前記試験装置は、 前記作動試験、前記不作動試験、前記自動試験の何れかを選択して開始させる操作手段を備えた、 試験装置。
IPC (2件)：
G08B 17/00 ( 200 6.01) ,  G08B 17/10 ( 200 6.01)
FI (2件)：
G08B 17/00 K ,  G08B 17/10 L
引用特許：
審査官引用 (5件)
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