特許
J-GLOBAL ID:202203009635023860
電子製品の評価方法および評価装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
福田 伸一
, 水崎 慎
, 高橋 克宗
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2018-154669
公開番号(公開出願番号):特開2020-030073
特許番号:特許第7075121号
出願日: 2018年08月21日
公開日(公表日): 2020年02月27日
請求項(抜粋):
【請求項1】 ノイズ源が電子製品に備えられた伝送線路へコモンモードノイズの周波数をスイープしながら注入する第1過程と、 前記伝送線路を介して前記電子製品に備えられたデバイスの端子に注入された前記コモンモードノイズの各周波数におけるノイズレベルを示す周波数特性を測定する第2過程と、 前記デバイスに誤動作が発生する各ノイズ周波数におけるノイズレベルを示す耐久特性を取得する第3過程と、 前記周波数特性と前記耐久特性とから、前記電子製品に誤動作を発生させる前記コモンモードノイズの周波数帯を特定する第4過程と、 を有することを特徴とする電子製品の評価方法。
IPC (3件):
G01R 31/30 ( 200 6.01)
, G01R 31/00 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01R 31/30
, G01R 31/00
, G01R 31/28 Z
引用特許: