特許
J-GLOBAL ID：202203010058208446
測定装置及び測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
有我 軍一郎
, 有我 栄一郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2018-139407
公開番号（公開出願番号）：特開2020-016534
特許番号：特許第7010784号
出願日： 2018年07月25日
公開日（公表日）： 2020年01月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 被測定装置(5)に対する試験信号の送信処理、又は前記被測定装置から被測定信号の受信処理を実行して前記被測定装置の測定を行う測定装置(1、100、200)であって、 所定の動作クロックで前記試験信号、又は前記被測定信号に対応する波形データを生成する処理を行う信号処理部(11、52)と、 前記信号処理部の動作クロックより高速なサンプリングレートで前記波形データをサンプリングしてD/A変換、又はA/D変換の処理を行う信号変換部(13、51)と、 前記信号処理部で生成された前記波形データを、前記動作クロックと前記サンプリングレートの比に相当する複数列の波形データとして入力し、該複数列の波形データを前記信号変換部へ出力するタイミング、又は前記信号変換部での信号変換後の前記波形データを、前記比に相当する複数列の波形データとして入力し、該複数列の波形データを前記信号処理部へ取込むタイミングを制御するタイミング制御部(12、53)と、を有し、 前記タイミング制御部は、 外部から入力されるトリガ信号を、予め設定された第1の調整値(aX)に基づき、前記動作クロックの周期で遅延させる遅延粗調整部(23、64)と、 前記信号処理部、又は前記信号変換部から入力される前記複数列の波形データを、前記遅延されたトリガ信号が入力したタイミングで、予め設定した第2の調整値(nY)に基づき、前記サンプリングレートの周期で配列方向に遅延させる遅延微調整部(25、66)と、 を有することを特徴とする測定装置。
IPC (2件)：
G01R 13/20 ( 200 6.01)
, G01R 31/00 ( 200 6.01)
G01R 13/20 N
, G01R 31/00
