特許
J-GLOBAL ID：202203013479363270

光検出装置

発明者：
恩田 一寿

恩田 一寿 について

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三木 早樹人

三木 早樹人 について

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清野 光宏

清野 光宏 について


出願人/特許権者：
株式会社デンソー

株式会社デンソー について


代理人 (3件)： 矢作 和行 ,  野々部 泰平 ,  久保 貴則
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-184033
公開番号（公開出願番号）：特開2022-074194
出願日： 2020年11月03日
公開日（公表日）： 2022年05月18日
要約：
【課題】検出の解像度を高めることが可能な光検出装置の提供。 【解決手段】ライダ装置100は、発光ユニット20、走査ユニット30、受光ユニット40及び光学ユニット60を備える光検出装置である。発光ユニット20では、ビームSBを放射する複数のレーザ発振素子22が互いに間隔をあけて光源配列方向ADsに配列されている。走査ユニット30は、発光ユニット20から放射されるビームSBを走査し、測定領域に投光する。受光ユニット40は、測定領域からの反射ビームRBを受光する。光学ユニット60は、発光ユニット20から走査ユニット30へ向かうビームの光路上に位置する。光学ユニット60は、ビームSBの透過方向に正のパワーを有するコリメータレンズ61と、コリメータレンズ61の後段に位置し、副走査面SSにおいて透過方向に正のパワーを有するビーム整形レンズ66と、を含んでいる。 【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ビーム(SB)を放射する複数の発光部(22)が互いに間隔をあけて特定配列方向(ADs)に配列される発光ユニット(20)と、 前記発光ユニットから放射される前記ビームを走査し、測定領域に投光する走査ユニット(30)と、 前記測定領域からの前記ビームの戻り光(RB)を受光する受光ユニット(40)と、 前記発光ユニットから前記走査ユニットへ向かう前記ビームの光路上に位置する光学ユニット(60)と、を備え、 前記光学ユニットは、 前記発光ユニットから前記走査ユニットへ向かう前記ビームの透過方向に正のパワーを有する第一光学素子(61)と、 前記第一光学素子の後段に位置し、前記透過方向及び前記特定配列方向に広がる特定断面(SS)において前記透過方向に正のパワーを有する第二光学素子(66)と、を含む光検出装置。
IPC (3件)：
G01S 7/481 ,  G02B 26/10 ,  G02B 26/08
FI (3件)：
G01S7/481 A ,  G02B26/10 104Z ,  G02B26/08 E
Fターム (37件)：
2H045AB03 ,  2H141MA12 ,  2H141MB24 ,  2H141MC01 ,  2H141MD12 ,  2H141MD20 ,  2H141ME01 ,  2H141ME03 ,  2H141ME04 ,  2H141ME24 ,  2H141ME25 ,  2H141MF28 ,  2H141MG10 ,  5J084AA05 ,  5J084AA10 ,  5J084AB01 ,  5J084AB07 ,  5J084AC02 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA06 ,  5J084BA13 ,  5J084BA20 ,  5J084BA36 ,  5J084BA40 ,  5J084BA49 ,  5J084BB02 ,  5J084BB04 ,  5J084BB06 ,  5J084BB07 ,  5J084BB10 ,  5J084BB37 ,  5J084CA53 ,  5J084DA01 ,  5J084DA02 ,  5J084EA04 ,  5J084EA22
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (1件)

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