特許

J-GLOBAL ID：202203016960995246

解析方法、解析装置及び解析プログラム

発明者： 久野 伸晃 ,  山田 渉 ,  中村 光貴 ,  淺井 裕介 ,  鷹取 泰司 ,  日景 隆 ,  山本 学
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社 ,  国立大学法人北海道大学
代理人 (1件)： 特許業務法人高田・高橋国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-123952
公開番号（公開出願番号）：特開2022-020451
出願日： 2020年07月20日
公開日（公表日）： 2022年02月01日
要約：

【課題】電磁界解析に必要な記憶容量を削減し、計算時間を短縮させることができる解析方法、解析装置及び解析プログラムを提供することを目的とする。 【解決手段】FDTD法を用いて電磁界解析を行う解析方法において、解析対象となる有限領域内から外部へ電磁界を放射させる開口部となる面領域を抽出する抽出工程と、面領域に対し、電界に関する波動方程式における反射を0とする吸収面領域を設定する領域設定工程と、ブロックごとに定められた媒質定数を記憶する記憶部が記憶している媒質定数、及び吸収面領域を用いてブロックごとに電磁界成分を計算する計算工程とを含むことを特徴とする。 【選択図】図5

請求項（抜粋）：

FDTD法を用いて電磁界解析を行う解析方法において、 解析対象となる有限領域内から外部へ電磁界を放射させる開口部となる面領域を抽出する抽出工程と、 前記面領域に対し、電界に関する波動方程式における反射を0とする吸収面領域を設定する領域設定工程と、 ブロックごとに定められた媒質定数を記憶する記憶部が記憶している媒質定数、及び前記吸収面領域を用いてブロックごとに電磁界成分を計算する計算工程と を含むことを特徴とする解析方法。

IPC (1件)：

G06F 30/23

FI (1件)：

G06F17/50 612H

Fターム (11件)：

5B046FA06 ,  5B046HA05 ,  5B046JA02 ,  5B046JA10 ,  5B046KA05 ,  5B146DG02 ,  5B146DJ04 ,  5B146DJ07 ,  5B146DL08 ,  5B146EA08 ,  5B146EC09

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 解析装置、解析方法および解析プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2015-125437   出願人：日本電信電話株式会社, 国立大学法人北海道大学

審査官引用 (2件)

• 解析装置、解析方法および解析プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2015-125437   出願人：日本電信電話株式会社, 国立大学法人北海道大学
• 電磁界特性解析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-028581   出願人：株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ

引用文献：

審査官引用 (1件)

• 建物内外における電界強度分布のレイトレース解析