特許
J-GLOBAL ID：202303005251248092
分析装置、分析管理システム、及びプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
弁理士法人太陽国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2022-029670
公開番号（公開出願番号）：特開2023-125538
出願日： 2022年02月28日
公開日（公表日）： 2023年09月07日
要約：
【課題】遠隔地からの分析依頼に応じて試料の分析を行う際に、試料の機密性を保持することができる、分析装置、分析管理システム、及びプログラムを提供する。
【解決手段】分析対象試料の機密性の高さを表す第1機密レベルの特定の値を取得する取得部と、分析対象試料を分析する自装置に対し、装置の機密性の高さを表す第2機密レベルであって取得部により取得された第1機密レベルの特定の値に対応する第2機密レベルの特定の値を設定する設定部と、設定部より設定された第2機密レベルの特定の値が閾値以上である場合は、表示及び操作に関連する一部の機能を制限するように自装置の機能を変更する機能変更部と、自装置の機能の下で分析対象試料の自動分析を行う分析処理部と、を備える分析装置とする。
【選択図】図8
請求項（抜粋）：
分析対象試料の機密性の高さを表す第1機密レベルの特定の値を取得する取得部と、
前記分析対象試料を分析する自装置に対し、装置の機密性の高さを表す第2機密レベルであって前記取得部により取得された前記第1機密レベルの特定の値に対応する前記第2機密レベルの特定の値を設定する設定部と、
前記設定部より設定された前記第2機密レベルの特定の値が閾値以上である場合は、表示及び操作に関連する一部の機能を制限するように自装置の機能を変更する機能変更部と、
自装置の機能の下で前記分析対象試料の分析を行う分析処理部と、
を備える分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
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