特許
J-GLOBAL ID：202303007938960070
粒子特定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
弁理士法人 HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2021-111456
公開番号（公開出願番号）：特開2023-008142
出願日： 2021年07月05日
公開日（公表日）： 2023年01月19日
要約：
【課題】幅広い範囲の粒子に関する情報を特定できる粒子特定システムを提供する。
【解決手段】散乱角度分布算出部(12)は、複数の検出部(D
0
~D
n
)によってそれぞれ検出された散乱光の散乱角度分布を算出する。粒子情報特定部(13)は、算出された散乱角度分布に基づいて、粒子に関する情報を特定する
【選択図】図1
請求項（抜粋）：
観測対象の粒子にレーザ光を照射する照射部と、
複数の異なる位置にそれぞれ配置され、前記レーザ光が前記粒子によって散乱されたことによって生じる散乱光を検出する複数の検出部と、
前記複数の検出部によってそれぞれ検出された前記散乱光の散乱角度分布を算出する算出部と、
算出された前記散乱角度分布に基づいて、前記粒子に関する情報を特定する特定部とを備えている粒子特定システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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