特許
J-GLOBAL ID:202303008530107147

解析装置、解析方法及び解析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 弁理士法人高田・高橋国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-173263
公開番号(公開出願番号):特開2021-051467
特許番号:特許第7228840号
出願日: 2019年09月24日
公開日(公表日): 2021年04月01日
請求項(抜粋):
【請求項1】 FDTD法を用いて電磁界解析を行う解析装置において、 複数のモデルそれぞれに対してブロックごとに定められた媒質定数を記憶する記憶部と、 前記記憶部が記憶している媒質定数を用いてブロックごとに電磁界成分を計算する計算部と、 解析対象となる有限領域を、複数のモデル間で媒質定数が共通である複数のブロックからなる共通部分と、モデルごとに媒質定数が異なる複数のブロックからなる非共通部分とに領域分割する領域分割部と、 前記共通部分に対する媒質定数を前記記憶部から1回読出すことにより、前記計算部が前記共通部分に対する電磁界成分を複数のモデルに対して更新する計算を行い、前記非共通部分に対する媒質定数を前記記憶部からモデルごとに読出すことにより、前記計算部が前記非共通部分に対する電磁界成分をモデルごとに更新する計算を行うように制御する制御部と を有することを特徴とする解析装置。
IPC (2件):
G06F 30/23 ( 202 0.01) ,  H04B 17/391 ( 201 5.01)
FI (2件):
G06F 30/23 ,  H04B 17/391
引用特許:
審査官引用 (4件)
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