特許
J-GLOBAL ID:202403000395849860

断層画像の解析方法、解析装置、及びコンピュータプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 坂本 寛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2022-112774
公開番号(公開出願番号):特開2024-011077
出願日: 2022年07月13日
公開日(公表日): 2024年01月25日
要約:
【課題】薬剤などの浸透物質の浸透状態をより適切に解析するため、断層画像における光の減衰の影響を低減する。 【解決手段】開示の断層画像の解析方法は、浸透物質が浸透する対象物を光断層撮影して得られた生体断層画像に対して、解析装置によって演算処理を行う、ことを備え、前記演算処理は、前記断層画像において、前記対象物の深さ方向における輝度の変化が閾値よりも大きい箇所を抽出することを備える。 【選択図】図1
請求項(抜粋):
浸透物質が浸透する対象物を光断層撮影して得られた断層画像に対して、解析装置によって演算処理を行う、 ことを備え、 前記演算処理は、 前記断層画像において、前記対象物の深さ方向における輝度の変化が閾値よりも大きい箇所を抽出する ことを備える 断層画像の解析方法。
IPC (1件):
G01N 21/17
FI (1件):
G01N21/17 620
Fターム (10件):
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF02 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM04 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09
引用特許:
出願人引用 (1件)

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