解析方法、解析装置及び解析プログラム

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出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：弁理士法人高田・高橋国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-123952
公開番号（公開出願番号）：特開2022-020451
特許番号：特許第7436987号
出願日： 2020年07月20日
公開日（公表日）： 2022年02月01日
請求項（抜粋）：

【請求項1】コンピュータがFDTD法を用いて電磁界解析を行う解析方法において、前記コンピュータが、解析対象となる有限領域内から外部へ電磁界を放射させる開口部となる面領域を抽出する抽出工程と、前記面領域に対し、電界に関する波動方程式における反射を0とする吸収面領域を設定する領域設定工程と、ブロックごとに定められた媒質定数を記憶する記憶部が記憶している媒質定数、及び前記吸収面領域を用いてブロックごとに電磁界成分を計算する計算工程とを実行することを特徴とする解析方法。

IPC (1件)：