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J-GLOBAL ID:200901087481968190   Update date: Sep. 22, 2024

Ijima Hiroshi

イジマ ヒロシ | Ijima Hiroshi
Affiliation and department:
Job title: Professor
Research field  (3): Measurement engineering ,  Statistical science ,  Computational science
Research keywords  (10): 化学分析 ,  ディープラーニング ,  機械学習 ,  画像解析 ,  確率過程 ,  カルマンフィルタ ,  時変スペクトル ,  確率システム ,  信号処理 ,  signal processing
Research theme for competitive and other funds  (5):
  • 2017 - 2020 画像解析と数理モデルによる糖分析の高度化
  • 2017 - 2019 画像解析と数理モデルによる糖分析の高度化
  • 2012 - 2015 Modeling and Parameter Estimation for Nonstationary Signals and Its Spectrum Representation
  • 2006 - 2008 Fundamental Studies on Detection of Signals in Nonstationary Random Noise via Stationarization Approach
  • 2004 - 2006 Studies on Subspace-based Modeling and Active Control for Flexible Structures Subjected to Seismic and Wind Disturbances
Papers (53):
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MISC (1):
  • IJIMA Hiroshi. Detection of Signals in Nonstationary Random Noise : Stationarization Approach. SYSTEMS, CONTROL AND INFORMATION. 2008. 52. 11. 401-406
Lectures and oral presentations  (20):
  • DNNによる双方向型合同遠隔授業支援システム構築のための児童の授業集中度に関する教員アンケート調査結果について
    (日本産業技術教育学会近畿支部 第39回研究発表会 2022)
  • スキャニング画像の色濃度モデルに基づいた薄層クロ マトグラフィーによる糖分析の高精度化
    (第62回自動制御連合講演会 2019)
  • 非定常不規則信号のモデルとその係数の推定手法について
    (第387回 振動談話会 2019)
  • Quantification of Carbohydrate Based on Scan Image Analysis for TLC Technique Compensating Lack of Spot Overlaps: Some New Results
    (International Congress on Industrial and Applied Mathematics(ICIAM2019) 2019)
  • Modeling and Simulation Studies on Development of Solutions on TLC for Verifying the Evolution of Components Based on the Scanned-Image Analysis
    (International Congress on Industrial and Applied Mathematics(ICIAM2019) 2019)
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Education (1):
  • Kyoto Institute of Technology
Professional career (1):
  • 博士(工学) (京都工芸繊維大学)
Work history (3):
  • 2013/04 - 現在 Wakayama University
  • 2009/04 - 2013/03 Wakayama University
  • 2007/10 - 2009/03 Wakayama University
Association Membership(s) (5):
日本産業技術教育学会近畿支部 ,  米国電気電子学会(IEEE) ,  計測自動制御学会 ,  システム制御情報学会 ,  電子情報通信学会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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