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J-GLOBAL ID:200901029310118083   Update date: Feb. 14, 2024

Suzuki Shushi

スズキ シュウシ | Suzuki Shushi
Affiliation and department:
Job title: Associate professor
Homepage URL  (1): http://kenpro.mynu.jp:8001/Profiles/0062/0006209/prof_e.html
Research field  (9): Thin-film surfaces and interfaces ,  Electronic devices and equipment ,  Inorganic and coordination chemistry ,  Basic physical chemistry ,  Nano/micro-systems ,  Nanobioscience ,  Nanomaterials ,  Nanostructure physics ,  Nanostructure chemistry
Research keywords  (6): Synchrotron X-ray ,  Scanning Probe Microscopy ,  Nanostructure ,  Nanoparticle ,  Interface ,  Surface
Research theme for competitive and other funds  (12):
  • 2019 - 2021 Development of atomic force microscope combined with synchrotron radiation X-ray for measurement of elemental species distribution on surfaces at the nanoscale
  • 2013 - 2016 X線支援原子間力顕微鏡XANAMの量子干渉効果に基づく理解
  • 2011 - 2012 Ice nucleation over nanosized TiO2 fine particles as an application to the artificial ice nucleation
  • 2002 - 2009 新型実験室用XPEEM装置の開発
  • 2008 - 2009 酸化物表面欠陥によるナノクラスターの制御と触媒作用
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Papers (83):
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura. Surface elemental imaging of Ge quantum dots on a Si surface by XANAM. Photon Factory Activity Report 2016. 2020. 37B. in press.
  • S. Suzuki, A. Morimoto, S. Kuwabata, T. Torimoto. Shape-controlled synthesis of Cu2O nanoparticles with single-digit nanoscale void space via ionic liquid/metal sputtering and their photoelectrochemical properties. Jpn. J. Appl. Phys. 2020. accepted
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura. Application of surface chemical imaging by XANAM to Ge surfaces. Proceedings of 8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VIII). 2019. 111-112
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, S. Fujimori, M. Ikeda, K. Makihara, S. Miyazaki, K. Asakura. XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging. Proceedings of 12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 (ALC'19). 2019. 87-89
  • S. Suzuki, S. Mukai, W.-J. Chun, M. Nomura, K. Asakura. Analysis of Incident X-ray Energy Influence on the Tip-Surface Force on the Ge Surface by XANAM. Photon Factory Activity Report 2016. 2019. 36B. 248
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MISC (73):
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Patents (2):
  • Quantum beam aided atomic force microscopy for biosample analysis, involves detecting change of interactive force between atoms of sample surface, after irradiating sample with charged particles
  • Quantum beam aided atomic force microscopy for biosample analysis, involves detecting change of interactive force between atoms of sample surface, after irradiating sample with charged particles
Books (6):
  • X線支援非接触原子間力顕微鏡
    朝倉書店 2020
  • "X-ray Aided Noncontact Atomic force microscopy(XANAM)" in "Encyclopedia of Surface Analysis"
    Springer 2017
  • 金属酸化物表面における金属-担体相互作用の解明に関する研究
    表面科学 2009
  • Development of a novel elemental analysis method based on NC-AFM in combination with SR X-rays
    2008
  • 分子vs表面 綱引きの勝敗はどっち? -メカノケミカル反応と熱反応の違いの理論的研究-
    化学 2008
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Lectures and oral presentations  (61):
  • Ge 量子ドット像のXANAM によるX 線エネルギー依存性測定
    (第67回応用物理学会春季学術講演会 2020)
  • NC-AFMとの融合によるGe表面の局所X線元素分析
    (第33回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム 2020)
  • Application of surface chemical imaging by XANAM to Ge surfaces
    (8th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VIII) 2019)
  • X線支援非接触原子間力顕微鏡(XANAM)によるGe表面の力イメージング
    (2019年日本表面真空学会学術講演会 2019)
  • XANAM measurements on Ge surfaces for surface chemical imaging
    (12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19 in conjunction with the 22nd International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS XXII) 2019)
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Works (1):
  • 原子像の観察と元素分析を同時に実行, AFMと放射光を併用する技術を確認
    2003 -
Education (1):
  • 1995 - 1999 The University of Tokyo Graduate School, Division of Science Department of Chemistry
Professional career (1):
  • (BLANK) (The University of Tokyo)
Work history (3):
  • 2017/04/01 - 現在 Nagoya University Graduate School of Engineering Materials Chemistry 1 Associate professor
  • 2017/04/01 - 現在 Nagoya University Graduate School of Engineering Materials Chemistry 1 Associate professor
  • 2009/04/01 - 2017/03/31 Nagoya University Graduate School of Engineering Department of Crystalline Materials Science Associate professor
Committee career (10):
  • 2020 - 現在 応用物理学会「量子ビームによる表面界面の光機能探究研究会」研究会 常任幹事 常任委員
  • 2014 - 現在 応用物理学会「埋もれた界面のX線・中性子解析」研究会 常任幹事 常任委員
  • 2017 - 2019 応用物理学会 学術討論会プログラム編成会委員 学術討論会プログラム編成会委員
  • 2014 - 2015 触媒学会 西日本支部幹事 委員
  • 2014 - 2015 日本化学会 東海支部化学教育協議会委員 委員
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Awards (2):
  • 2015/07/31 - 日本学術振興会 平成27年度特別研究員等審査会専門委員(書面担当)表彰
  • 2008/03/27 - 日本化学会 日本化学会 第57回進歩賞「元素分析走査プローブ顕微鏡の開発」
Association Membership(s) (9):
量子ビームによる表面界面の光機能探究研究会 ,  日本物理学会 ,  埋もれた界面のX線・中性子解析研究会 ,  日本放射光学会 ,  触媒学会 ,  日本XAFS研究会 ,  日本表面科学会 ,  日本化学会 ,  日本応用物理学会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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