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J-GLOBAL ID：200902005300316496   Reference number：93A0271035

Characterization of chalcopyrite structure Cu-In-Se thin films.

カルコパイライト型Cu-In-Se薄膜の解析

Author (9)： KOHIKI SHIGEMI (松下電器産業 中研) ,  NISHITANI MIKIHIKO (松下電器産業 中研) ,  NEGAMI TAKAYUKI (松下電器産業 中研) ,  WADA TAKAHIRO (松下電器産業 中研) ,  SAKAI MASAHIRO (松下電器産業 中研) ,  GOUSHI YOICHI (東大 工) ,  MONJUSHIRO HIDEAKI (大阪大 理) ,  WATANABE IWAO (大阪大 理) ,  YOKOYAMA YU (大阪大 理)
Material： X線分析討論会講演要旨集  (X線分析討論会講演予稿集)
Volume： 28th  Page： 11-12  Publication year： 1992 
JST Material Number： S0881A  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (4)： Cu ,  Se ,  薄膜 ,  解析