Art

J-GLOBAL ID：200902041550000717   Reference number：89A0302456

Interfacial superstructure studied by grazing incidence X-ray diffraction.

微小角入射X線回折法による界面超構造の観測

Author (4)： AKIMOTO KOICHI (日本電気 基礎研) ,  MIZUKI JUN'ICHIRO (日本電気 基礎研) ,  HIROSAWA ICHIRO (日本電気 基礎研) ,  MATSUI JUNJI (日本電気 基礎研)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 58  Issue： 1  Page： 66-71  Publication year： Jan. 1989 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X-Ray Diffraction ,...
Semi thesaurus term： ultrastructure

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JST classification (2)： X-ray diffraction methods  (BK01020I) ,  Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Reference (13)：

• 1) W. C. Marra, P. Eisenberger and A. Y. Cho: J. Appl. Phys. 50 (1979) 6927.
• 2) K. Akimoto, J. Mizuki, T. Tatsumi, N. Aizaki and J. Matsui: Surf. Sci. 183 (1987) L 297.
• 3) K. Akimoto, J. Mizuki, I. Hirosawa and J. Matsui: Proc. 3rd Conf. Synchrotron Radiation Instrumentation, Tsukuba, 1988, Rev. Sci. Instrum. 掲載予定.
• 4) J. Mizuki, K. Akimoto, I. Hirosawa, K. Hirose, T. Mizutani and J. Matsui: J. Vac. Sci. & Technol. B6 (1988) 31.
• 5) P. Drathen, W. Ranke and K. Jacobi: Surf. Sci. 77 (1978) L162.

Terms in the title (3)： 微小角入射X線回折 ,  界面 ,  観測