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J-GLOBAL ID：200902049342210822   Reference number：91A0261081

Frequency modulation detection using high-Q cantilevers for enhanced force microscope sensitivity.

Qの高いカンチレバーを用いる周波数変調検出による力顕微鏡の感度向上

Author (4)： ALBRECHT T R (IBM Research Division, California) ,  GRUETTER P (IBM Research Division, California) ,  HORNE D (IBM Research Division, California) ,  RUGAR D (IBM Research Division, California)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 69  Issue： 2  Page： 668-673  Publication year： Jan. 15, 1991 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： microscope ,...

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JST classification (2)： Other laboratory techniques and instrumentation systems in physics  (BA02080Z) ,  Measuring techniques and equipments of magnetic materials  (BM06030I)

Terms in the title (4)： カンチレバー ,  周波数変調 ,  力顕微鏡 ,  感度向上