Art

J-GLOBAL ID：200902057371234474   Reference number：90A0742617

On the electrochemical etching of tips for scanning tunneling microscopy.

走査トンネル顕微鏡のためのチップの電気化学エッチングについて

Author (9)： IBE J P (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  BEY P P JR (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  BRANDOW S L (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  BRIZZOLARA R A (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  BURNHAM N A (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  DILELLA D P (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  LEE K P (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  MARRIAN C R K (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  COLTON R J (Naval Research Lab., Washington, D.C.)
Material： Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films  (Journal of Vacuum Science and Technology. A. Vacuum, Surfaces, and Films)
Volume： 8  Issue： 4  Page： 3570-3575  Publication year： Jul. 1990 
JST Material Number： C0789B  ISSN： 0734-2101  CODEN： JVTAD6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： electrochemical reaction ,...
Semi thesaurus term： STM

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=90A0742617&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0789B") }}

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (2)： 走査トンネル顕微鏡 ,  電気化学エッチング