Art

J-GLOBAL ID：200902087036535334   Reference number：88A0249411

Structured highlight inspection of specular surfaces.

鏡面の構造化ハイライト検査

Author (3)： SANDERSON A C (Carnegie-Mellon Univ., PA, USA) ,  WEISS L E (Carnegie-Mellon Univ., PA, USA) ,  NAYAR S K (Carnegie-Mellon Univ., PA, USA)
Material： IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence  (IEEE Transactions on Pattern Analysis & Machine Intelligence)
Volume： 10  Issue： 1  Page： 44-55  Publication year： Jan. 1988 
JST Material Number： B0519B  ISSN： 0162-8828  CODEN： ITPIDJ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： computer vision ,...

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JST classification (2)： 図形・画像処理【’81~’92】  (JE04000X) ,  CAD,CAM  (JE10000A)

Terms in the title (4)： 鏡面 ,  構造化 ,  ハイライト ,  検査