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J-GLOBAL ID：200902096628494745   Reference number：88A0558570

Scanning tunneling microscopy of x-ray optics.

X線光学要素の走査トンネル顕微鏡による研究

Author (6)： GREEN M (Stanford Univ., CA, USA) ,  RICHTER M (Stanford Univ., CA, USA) ,  KORTRIGHT J (Lawrence Berkeley Lab., CA, USA) ,  BARBEE T (Lawrence Livermore Lab., CA, USA) ,  CARR R (Stanford Univ., CA, USA) ,  LINDAU I (Stanford Univ., CA, USA)
Material： Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films  (Journal of Vacuum Science and Technology. A. Vacuum, Surfaces, and Films)
Volume： 6  Issue： 2  Page： 428-431  Publication year： Mar. 1988 
JST Material Number： C0789B  ISSN： 0734-2101  CODEN： JVTAD6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： reflecting mirror ,...
Semi thesaurus term： STM

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JST classification (2)： Surface structure of metals  (BK15020P) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (4)： X線 ,  光学要素 ,  走査トンネル顕微鏡 ,  研究