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J-GLOBAL ID：200902100903132554   Reference number：00A1026716

Study of aniline on a Si(111)7×7 surface by scanning tunneling microscopy.

走査型トンネル顕微鏡によるSi(111)7×7表面上のアニリンの観察

Author (7)： TOMIMOTO H (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  SUMII R (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  SHIROTA N (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  YAGI S (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  TANIGUCHI M (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  SEKITANI T (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN) ,  TANAKA K (Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
Material： Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures  (Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics Processing and Phenomena)
Volume： 18  Issue： 5  Page： 2335-2338  Publication year： Sep. 2000 
JST Material Number： E0974A  ISSN： 1071-1023  CODEN： JVTBD9  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *silicon ,...
Semi thesaurus term： self-association

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JST classification (1)： Study of adsorption by physical means  (CB12043P)

Substance index (1)： Aniline

Terms in the title (4)： 走査型トンネル顕微鏡 ,  Si ,  アニリン ,  観察