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J-GLOBAL ID：200902101000802037   Reference number：94A0904097

Multiple low angles of incidence x-ray-diffraction method for nondestructively determining the depth-dependent fraction of a phase in the surface layer.

表層部における特定相の深さ依存分率の非破壊測定法としての多重小角入射X線回折法

Author (3)： MIZUTANI K (Osaka Prefectural Industrial Technology Research Inst., Osaka, JPN) ,  MURATA K (Osaka Prefectural Industrial Technology Research Inst., Osaka, JPN) ,  TANAKA Y (Univ. Osaka Prefecture, Sakai, JPN)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 76  Issue： 6  Page： 3511-3515  Publication year： Sep. 15, 1994 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： depth analysis ,...

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JST classification (2)： Crystal structure of metal oxides and chalcogenides  (BK07020Y) ,  X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (4)： 表層部 ,  非破壊測定 ,  多重 ,  X線回折法