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J-GLOBAL ID：200902102649881781   Reference number：00A0812131

Orientation dependence of ferroelectric properties of Pb(Zr_xTi_1-x)O₃ thin films on Pt/SiO₂/Si substrates.

Pt/SiO₂/Si基板上のPb(Zr_xTi_1-x)O₃薄膜の強誘電体特性の配向依存性

Author (6)： FUJITA H (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  IMADE M (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  SAKASHITA M (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  SAKAI A (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  ZAIMA S (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  YASUDA Y (Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
Material： Applied Surface Science  (Appl Surf Sci)
Volume： 159/160  Page： 134-137  Publication year： Jun. 2000 
JST Material Number： B0707B  ISSN： 0169-4332  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ferroelectrics ,...
Semi thesaurus term： *PZT

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JST classification (2)： Oxide thin films  (BK14050P) ,  Ferroelectrics,antiferroelectrics and ferroelasticity  (BM05030B)

Terms in the title (9)： PT ,  SiO2 ,  Si基板 ,  Pb ,  O3 ,  薄膜 ,  強誘電体 ,  配向 ,  依存性