Art

J-GLOBAL ID：200902104951070248   Reference number：97A0191914

Fault Verification Simulation for Light-Emission Microscopy and Liquid-Crystal Analysis.

発光顕微鏡観察および液晶解析の故障検証シミュレーション

Author (4)： KUJI N (NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN) ,  TAKEDA T (NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN) ,  NAKAMURA S (NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN) ,  KOMINE Y (NTT System Electronics Lab., Kanagawa, JPN)
Material： Proceedings of the International Symposium for Testing and Failure Analysis  (Proceedings. ISTFA)
Volume： 22nd  Page： 121-126  Publication year： 1996 
JST Material Number： D0658B  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： simulator program ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (6)： 顕微鏡観察 ,  液晶 ,  解析 ,  故障 ,  検証 ,  シミュレーション