Art

J-GLOBAL ID：200902107554751440   Reference number：94A0540272

Thermal and ambient-induced deflections of scanning force microscope cantilevers.

走査型力顕微鏡のカンチレバーの熱的または環境によって誘発されたたわみ

Author (4)： THUNDAT T (Oak Ridge National Lab., Tennessee) ,  WARMACK R J (Oak Ridge National Lab., Tennessee) ,  CHEN G Y (Oak Ridge National Lab., Tennessee) ,  ALLISON D P (Oak Ridge National Lab., Tennessee)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 64  Issue： 21  Page： 2894-2896  Publication year： May. 23, 1994 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： force microscope ,...

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JST classification (1)： Electron and ion microscopes  (BD02050B)

Terms in the title (5)： 走査型力顕微鏡 ,  カンチレバー ,  環境 ,  誘発 ,  たわみ