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J-GLOBAL ID：200902111940061952   Reference number：97A0820699

Model for Analysis of XPS Electron Take-off Angle Experiments in Layer-structured Samples: Determination of Attenuation Lengths in a Well-characterized Langmuir-Blodgett Film.

層状構造試料のXPS電子テイクオフ角実験の解析モデル 十分に特性化されたLangmuir-Blodgett膜の減衰長の決定

Author (6)： SUZUKI N (Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN) ,  IIMURA K (Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN) ,  SATOH S (Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN) ,  SAITO Y (Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN) ,  KATO T (Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN) ,  TANAKA A (ULVAC-PHI, Inc., Chigasaki, JPN)
Material： Surface and Interface Analysis  (SIA)
Volume： 25  Issue： 9  Page： 650-659  Publication year： Aug. 1997 
JST Material Number： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： X-ray photoelectron spectrum ,...

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JST classification (3)： Spectra of polymers  (CG02033O) ,  Electron spectroscopy  (BM09060K) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L)

Terms in the title (7)： 層状構造 ,  試料 ,  実験 ,  解析モデル ,  特性化 ,  Langmuir-Blodgett膜 ,  減衰