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J-GLOBAL ID：200902113210556746   Reference number：94A0396787

Design of a Hot Tensile Stage for an Ultra-High-Voltage Electron Microscope and Its Application to in Situ Deformation of Sapphire at 1620 and 1720 K.

超高電圧電子顕微鏡用熱引張試験台の設計と1620および1720Kでのサファイアのその場分解への応用

Author (3)： KOMATSU M (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MORI H (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  IWASAKI K (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Journal of the American Ceramic Society  (J Am Ceram Soc)
Volume： 77  Issue： 3  Page： 839-842  Publication year： Mar. 1994 
JST Material Number： C0253A  ISSN： 0002-7820  CODEN： JACTAW  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： high voltage electron microscope ,...

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JST classification (2)： Other ceramic products  (YC06030B) ,  Measuring methods and instruments of length,area,cross section,volume,angle  (AD05020O)

Terms in the title (6)： 高電圧電子顕微鏡 ,  引張試験 ,  設計 ,  サファイア ,  分解 ,  応用