Art

J-GLOBAL ID：200902113677465264   Reference number：93A0902609

Near-surface-layer analysis by critical takeoff-angle X-ray fluorescence detection.

臨界取出角蛍光X線検出による表面層分析

Author (3)： HAYAKAWA S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SASAKI S (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  GOHSHI Y (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
Material： Advances in X-Ray Analysis  (Adv X-Ray Anal)
Volume： 36  Page： 257-262  Publication year： 1993 
JST Material Number： H0119C  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： surface analysis ,...
Semi thesaurus term： 取出角 ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=93A0902609&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0119C") }}

JST classification (3)： X-ray spectra in general.Including X-ray  (BM08101P) ,  Metallic thin films  (BK14030T) ,  Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (5)： 臨界 ,  取出 ,  蛍光X線 ,  表面層 ,  分析