Art

J-GLOBAL ID：200902116276613715   Reference number：03A0017065

Tbit/inch² ferroelectric data storage based on scanning nonlinear dielectric microscopy.

走査非線形誘電率顕微鏡によるTbit/inch²強誘電体データ蓄積

Author (7)： CHO Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  FUJIMOTO K (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  HIRANAGA Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  WAGATSUMA Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  ONOE A (Pioneer Corp., Tsurugashima, JPN) ,  TERABE K (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN) ,  KITAMURA K (National Inst. Materials Sci., Tsukuba, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 81  Issue： 23  Page： 4401-4403  Publication year： Dec. 02, 2002 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ferroelectrics ,...
Semi thesaurus term： 走査非線形誘電率顕微鏡 ,...

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JST classification (1)： Ferroelectrics,antiferroelectrics and ferroelasticity  (BM05030B)

Terms in the title (6)： 走査 ,  非線形 ,  誘電率 ,  顕微鏡 ,  強誘電体 ,  データ蓄積