Art

J-GLOBAL ID：200902116792803954   Reference number：99A0141322

Near-field optics and nano-engineering.

近接場光学とナノエンジニアリング

Author (2)： INOUE YASUSHI (大阪大 大学院) ,  KAWATA SATOSHI (大阪大 大学院)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 67  Issue： 12  Page： 1376-1382  Publication year： Dec. 1998 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning optical microscope ,...
Semi thesaurus term： near field(optics)

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0141322&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=F0252A") }}

JST classification (1)： Optical instruments and techniques in general  (BD07010S)

Reference (35)：

• 1) 河田 聡:光学 21, 766 (1992).
• 2) 河田 聡,井上康志:光学 26, 516 (1997).
• 3) 井上康志:光学 27, 598 (1998).
• 4) E. Betizig, K. Trautman, T. D. Harris, J. S. Weiner and R. L. Kostelak: Science, 251, 1468 (1991).
• 5) F. Zenhausern, M. P. O'Boyle and H. K. Wickramasinghe: Appl. Phys. Lett. 65, 1623 (1994).

Terms in the title (2)： 近接場光学 ,  エンジニアリング