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J-GLOBAL ID：200902125632693477   Reference number：99A0258250

Characterization of Etch Pits and Correlated Defects in ZnSe/(001)GaAs.

エッチピットの特性およびZnSe/(001)GaAsにおける相関のある欠陥

Author (3)： TANAKA S (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  GOTO T (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  HIBINO M (Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
Material： Microscopy Research and Technique  (Microsc Res Tech)
Volume： 43  Issue： 6  Page： 518-519  Publication year： Dec. 15, 1998 
JST Material Number： T0531A  ISSN： 1059-910X  Document type： Article
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (5)： エッチピット ,  ZnSe ,  GaAs ,  相関 ,  欠陥