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J-GLOBAL ID：200902130295610800   Reference number：01A0240289

Verification of Far-Field Superresolution Microscope Based on Two-Color Dip Spectroscopy.

2波長Dip分光法を応用したファーフィールド超解像顕微鏡の開発

Author (7)： IKETAKI YOSHINORI (オリンパス光学工業 基礎技研) ,  OMATSU TAKASHIGE (千葉大 工) ,  SATO OSAMU (日本ローパー) ,  SUZUKI TOMOO (日本ローパー) ,  ISHIUCHI SHUN'ICHI (分子科研) ,  SAKAI MAKOTO (分子科研) ,  FUJII MASAAKI (分子科研)
Material： 分子構造総合討論会講演要旨集
Volume： 2000  Page： 224  Publication year： Sep. 27, 2000 
JST Material Number： L0848A  Document type： Proceedings
Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Terms in the title (8)： 波長 ,  DIP ,  分光法 ,  応用 ,  ファー ,  フィールド ,  超解像顕微鏡 ,  開発