Art

J-GLOBAL ID：200902131737960454   Reference number：98A0553880

Characterization of biaxially-stretched plastic films by generalized ellipsometry.

一般化偏光解析法による二軸伸長させたプラスチック膜の特性評価

Author (4)： ELMAN J F (Eastman Kodak Co., NY, USA) ,  GREENER J (Eastman Kodak Co., NY, USA) ,  HERZINGER C M (J.A. Woollam Co., NE, USA) ,  JOHS B (J.A. Woollam Co., NE, USA)
Material： Thin Solid Films
Volume： 313/314  Page： 814-818  Publication year： Feb. 1998 
JST Material Number： B0899A  ISSN： 0040-6090  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ellipsometry ,...
Semi thesaurus term： *terephthalic acids

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JST classification (2)： Physical properties of polymer solids  (CG02024U) ,  Polarimetry and polarimeters  (BD07050K)

Terms in the title (5)： 一般化 ,  偏光解析法 ,  二軸 ,  プラスチック膜 ,  特性評価