Art

J-GLOBAL ID：200902135581806307   Reference number：98A0244865

Electron Probe X-ray Microanalysis for the Assessment of Homogeneity of Candidate Reference Materials at the Nanogram Level.

ナノグラムレベルでの標準物質候補の均一性評価に用いる電子プローブX線微量分析

Author (4)： HOORNAERT S (Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL) ,  TREIGER B (Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL) ,  VALKOVIC V (Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL) ,  VAN GRIEKEN R (Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL)
Material： Microchimica Acta  (Archiv fuer Microchemie, Spurenanalyse und Physikalisch-Chemische Micromethoden)
Volume： 128  Issue： 3/4  Page： 207-213  Publication year： 1998 
JST Material Number： D0076A  ISSN： 0026-3672  CODEN： MIACAQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Austria (AUT)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： trace constituent ,...
Semi thesaurus term： IAEA ,...

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JST classification (1)： Other phsical analysis  (CC03014E)

Terms in the title (6)： 標準物質 ,  均一性 ,  評価 ,  電子プローブ ,  X線 ,  微量分析